Understanding the direct detection of charged particles with SiPMs

F. Carnesecchi, G. Vignola, N. Agrawal, A. Alici, P. Antonioli, S. Arcelli, F. Bellini, D. Cavazza, L. Cifarelli, M. Colocci, S. Durando, F. Ercolessi, A. Ficorella, C. Fraticelli, M. Garbini, M. Giacalone, A. Gola, D. Hatzifotiadou, NICOLO' JACAZIO, A. MargottiG. Malfattore, R. Nania, F. Noferini, G. Paternoster, O. Pinazza, R. Preghenella, R. Rath, R. Ricci, L. Rignanese, N. Rubini, B. Sabiu, E. Scapparone, G. Scioli, S. Strazzi, S. Tripathy, A. Zichichi

Risultato della ricerca: Contributo su rivistaArticolo in rivistapeer review

Abstract

In this paper, evidence that the increased response of SiPM sensors to the passage of charged particles is related mainly to Cherenkov light produced in the protection layer is reported. The response and timing properties of sensors with different protection layers have been studied.
Lingua originaleInglese
pagine (da-a)1-4
Numero di pagine4
RivistaTHE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL PLUS
Volume138
Numero di pubblicazione4
DOI
Stato di pubblicazionePubblicato - 2023

Keywords

  • solid-state detector
  • SiPM

Fingerprint

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