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Test beam characterization of 3-D silicon pixel detectors
Markus Mathes, M. Cristinziani, C. Da Via, M. Garcia-Sciveres, K. Einsweiler, J. Hasi, C. Kenney, S. I. Parker, L. Reuen, M. Ruspa, J. Velthuis, S. Watts, Norbert Wermes
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