Radiation tolerance of single-sided silicon microstrips

A. Holmes-Siedle, M. Robbins, S. Watts, P. Allport, R. Brenner, H. G. Moser, S. Roe, J. Straver, P. Weilhammer, P. Chochula, I. Mikulec, S. Moszczynski, M. Turala, W. Dabrowski, P. Grybos, M. Idzik, D. Loukas, K. Misiakos, I. Siotis, K. ZachariadouW. Dulinski, J. Michele, M. Schaeffer, R. Turchetta, P. Booth, J. Richardson, N. Smith, K. Gill, G. Hall, R. Sachdeva, S. Sotthibandhu, D. Vitè, R. Wheadon, C. Arrighi, P. Delpierre, M. C. Habrard, J. C. Clemens, T. Mouthuy, B. S. Avset, L. Evensen, A. Hanneborg, T. A. Hansen, D. Bisello, A. Giraldo, A. Paccagnella, L. Kurchaninov, E. Spiriti, R. Apsimon, P. Giubellino, L. Ramello, W. L. Prado da Silva, M. Krammer, M. SchusterShow 33 moreShow less