Measurements of Rd-Rp and RCa-Rc in deep inelastic muon scattering

  • P. Amaudruz
  • , M. Arneodo
  • , A. Arvinson
  • , B. Badelek
  • , G. Baum
  • , J. Beaufays
  • , I. G. Bird
  • , M. Botie
  • , C. Broggini
  • , W. Brückner
  • , A. Brüll
  • , W. J. Burger
  • , J. Ciborowski
  • , R. van Dantzig
  • , H. Döbbeling
  • , J. Domingo
  • , J. Drinkard
  • , H. Engelien
  • , M. I. Ferrero
  • , L. Fluri
    • P. Grafström, T. Granier, D. von Harrach, M. van der Heijden, C. Heusch, Q. Ingram, K. Janson-Prytz, M. de Jong, E. M. Kabuß, R. Kaiser, T. J. Ketel, F. Klein, B. Korzen, U. Kruner, S. Kullander, U. Landgraf, F. Lettenström, T. Lindqvist, G. K. Mallot, C. Mariotti, G. van Middelkoop, A. Milsztajn, Y. Mizuno, J. Nassalski, D. Nowotny, N. Pavel, C. Peroni, H. Peschel, B. Povh, R. Rieger, K. Rith, K. Röhrich, E. Rondio, L. Ropelewski, A. Sandacz, C. Scholz, R. Schumacher, U. Sennhauser, F. Sever, T. A. Shibata, M. Siebler, A. Simon, A. Staiano, G. Taylor, M. Treichel, M. Virchaux, J. L. Vuilleumier, T. Walcher, R. Windmolders, F. Zetsche

Risultato della ricerca: Contributo su rivista › Articolo in rivista › peer review

Fingerprint

Entra nei temi di ricerca di 'Measurements of Rd-Rp and RCa-Rc in deep inelastic muon scattering'. Insieme formano una fingerprint unica.

Keyphrases

Physics

Chemistry

Engineering