Measurement of Ke30 form factors

A. Lai, D. Marras, A. Bevan, R. S. Dosanjh, T. J. Gershon, B. Hay, G. E. Kalmus, C. Lazzeroni, D. J. Munday, E. Olaiya, M. A. Parker, T. O. White, S. A. Wotton, G. Barr, G. Bocquet, A. Ceccucci, T. Cuhadar-Dönszelmann, D. Cundy, G. D'Agostini, N. DobleV. Falaleev, L. Gatignon, A. Gonidec, B. Gorini, G. Govi, P. Grafström, W. Kubischta, A. Lacourt, A. Norton, S. Palestini, B. Panzer-Steindel, H. Taureg, M. Velasco, H. Wahl, C. Cheshkov, P. Hristov, V. Kekelidze, L. Litov, D. Madigojine, N. Molokanova, Y. Potrebenikov, S. Stoynev, A. Zinchenko, I. Knowles, V. Martin, R. Sacco, A. Walker, M. Contalbrigo, P. Dalpiaz, J. Duclos, P. L. Frabetti, A. Gianoli, M. Martini, F. Petrucci, M. Savrié, A. Bizzeti, M. Calvetti, G. Collazuol, G. Graziani, E. Iacopini, M. Lenti, F. Martelli, M. Veltri, H. G. Becker, K. Eppard, M. Eppard, H. Fox, A. Kalter, K. Kleinknecht, U. Koch, L. Köpke, P. Lopes da Silva, P. Marouelli, I. Pellmann, A. Peters, B. Renk, S. A. Schmidt, V. Schönharting, Y. Schué, R. Wanke, A. Winhart, M. Wittgen, J. C. Chollet, L. Fayard, L. Iconomidou-Fayard, J. Ocariz, G. Unal, I. Wingerter-Seez, G. Anzivino, P. Cenci, E. Imbergamo, P. Lubrano, A. Mestvirishvili, A. Nappi, M. Pepe, M. Piccini, L. Bertanza, R. Carosi, R. Casali, C. Cerri, M. Cirilli, F. Costantini, R. Fantechi, S. Giudici, I. Mannelli, G. Pierazzini, M. Sozzi, J. B. Cheze, J. Cogan, M. de Beer, P. Debu, A. Formica, R. Granier de Cassagnac, E. Mazzucato, B. Peyaud, R. Turlay, B. Vallage, M. Holder, A. Maier, M. Ziolkowski, R. Arcidiacono, C. Biino, N. Cartiglia, F. Marchetto, E. Menichetti, N. Pastrone, J. Nassalski, E. Rondio, M. Szleper, W. Wislicki, S. Wronka, H. Dibon, G. Fischer, M. Jeitler, M. Markytan, I. Mikulec, G. Neuhofer, M. Pernicka, A. Taurok, L. Widhalm

Risultato della ricerca: Contributo su rivistaArticolo in rivistapeer review

Fingerprint

Entra nei temi di ricerca di 'Measurement of Ke30 form factors'. Insieme formano una fingerprint unica.

Keyphrases

Mathematics

Engineering

Physics