| Lingua originale | Inglese |
|---|---|
| Titolo della pubblicazione ospite | Series on Quality, Reliability and Engineering Statistics |
| Editore | World Scientific |
| Pagine | 365-381 |
| Numero di pagine | 17 |
| Volume | 10 |
| Stato di pubblicazione | Pubblicato - 1 gen 2005 |
From Artificial Intelligence to Dependability: Using Bayesian Networks for Reliability Modeling and Analysis
Luigi PORTINALE, BOBBIO Andrea, Stefania MONTANI
Risultato della ricerca: Capitolo in libro/report/atti di convegno › Contributo in volume (Capitolo o Saggio)