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“Excess noise in thick film resistors: The volume dependence.”

  • MASOERO Aldo
  • , MORTEN B.
  • , TAMBORIN M.
  • , PRUDENZIATI M.

Risultato della ricerca: Contributo su rivistaArticolo in rivista

Lingua originaleInglese
pagine (da-a)5-8
Numero di pagine4
RivistaMicroelectronics International
Volume37
Stato di pubblicazionePubblicato - 1 gen 1995
Pubblicato esternamente

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