“Excess noise in 
 thick film resistors: The volume dependence.”

MASOERO Aldo, MORTEN B., TAMBORIN M., PRUDENZIATI M.

Risultato della ricerca: Contributo su rivista › Articolo in rivista

Lingua originale	Inglese
pagine (da-a)	5-8
Numero di pagine	4
Rivista	Microelectronics International
Volume	37
Stato di pubblicazione	Pubblicato - 1 gen 1995
Pubblicato esternamente	Sì

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author = "MASOERO Aldo and MORTEN B. and TAMBORIN M. and PRUDENZIATI M.",

year = "1995",

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language = "English",

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pages = "5--8",

journal = "Microelectronics International",

issn = "1356-5362",

publisher = "Emerald Group Publishing Ltd.",

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