Direct detection of charged particles with SiPMs

F. Carnesecchi, G. Vignola, N. Agrawal, A. Alici, P. Antonioli, S. Arcelli, F. Bellini, D. Cavazza, L. Cifarelli, M. Colocci, S. Durando, F. Ercolessi, M. Garbini, M. Giacalone, D. Hatzifotiadou, N. Jacazio, A. Margotti, G. Malfattore, R. Nania, F. NoferiniO. Pinazza, R. Preghenella, R. Ricci, L. Rignanese, N. Rubini, E. Scapparone, G. Scioli, S. Strazzi, S. Tripathy, A. Zichichi

Risultato della ricerca: Contributo su rivistaArticolo in rivistapeer review

Abstract

The direct response of Silicon PhotoMultipliers being traversed by a MIP charged particle have been studied in a systematic way for the first time. Using beam test data, time resolution and the crosstalk probability have been measured. A characterization of the SiPM by means of a laser beam is also reported. The results obtained for different sensors indicate a measured time resolution around 40-70 ps. Although particles are expected to traverse only one SPAD per event, crosstalk measurements on different sensors indicate an unexpected higher value with respect to the one related to the sensor noise.

Lingua originaleInglese
Numero di articoloP06007
RivistaJournal of Instrumentation
Volume17
Numero di pubblicazione6
DOI
Stato di pubblicazionePubblicato - 1 giu 2022
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