Developments in the FBK production of ultra-fast silicon detectors

M Ferrero, Ali O Hammad, Roberta ARCIDIACONO, M Boscardin, N Cartiglia, F Cenna, R Cirio, M Costa, Betta GF Dalla, F Ficorella, S Giordanengo, M Mandurrino, V Monaco, MM Obertino, L Pancheri, G Paternoster, R Sacchi, F Siviero, V Sola, A StaianoA Vignati

Risultato della ricerca: Contributo alla conferenzaContributo in Atti di Convegnopeer review

Lingua originaleInglese
Pagine1-5
Numero di pagine5
DOI
Stato di pubblicazionePubblicato - 2017
Evento2017 IEEE NSS/MIC/RTSD International Conference - Atlanta, USA
Durata: 1 gen 2017 → …

???event.eventtypes.event.conference???

???event.eventtypes.event.conference???2017 IEEE NSS/MIC/RTSD International Conference
CittàAtlanta, USA
Periodo1/01/17 → …

Cita questo