Accurate measurement of Fd2/Fp2 and Rd - Rp

  • M. Arneodo
  • , A. Arvidson
  • , B. Badełek
  • , M. Ballintijn
  • , G. Baum
  • , J. Beaufays
  • , I. G. Bird
  • , P. Björkholm
  • , M. Botje
  • , C. Broggini
  • , W. Brückner
  • , A. Brüll
  • , W. J. Burger
  • , J. Ciborowski
  • , R. Van Dantzig
  • , A. Dyring
  • , H. Engelien
  • , M. I. Ferrero
  • , L. Fluri
  • , U. Gaul
    • T. Granier, M. Grosse-Perdekamp, D. Von Harrach, M. Van Der Heijden, C. Heusch, Q. Ingram, M. De Jong, E. M. Kabuß, R. Kaiser, T. J. Ketel, F. Klein, S. Kullander, U. Landgraf, T. Lindqvist, G. K. Mallot, C. Mariotti, G. Van Middelkoop, A. Milsztajn, Y. Mizuno, A. Most, A. Mücklich, J. Nassalski, D. Nowotny, J. Oberski, A. Paić, C. Peroni, B. Povh, K. Prytz, R. Rieger, K. Rith, K. Röhrich, E. Rondio, L. Ropelewski, A. Sandacz, D. Sanders, C. Scholz, R. Seitz, F. Sever, T. A. Shibata, M. Siebler, A. Simon, A. Staiano, M. Szleper, W. Tłaczala, Y. Tzamouranis, M. Virchaux, J. L. Vuilleumier, T. Walcher, R. Windmolders, A. Witzmann, K. Zaremba, F. Zetsche

Risultato della ricerca: Contributo su rivista › Articolo in rivista › peer review

Fingerprint

Entra nei temi di ricerca di 'Accurate measurement of Fd2/Fp2 and Rd - Rp'. Insieme formano una fingerprint unica.
Ordina per

Keyphrases

Physics

Material Science