Accurate measurement of Fd2/Fp2 and Rd - Rp

M. Arneodo, A. Arvidson, B. Badełek, M. Ballintijn, G. Baum, J. Beaufays, I. G. Bird, P. Björkholm, M. Botje, C. Broggini, W. Brückner, A. Brüll, W. J. Burger, J. Ciborowski, R. Van Dantzig, A. Dyring, H. Engelien, M. I. Ferrero, L. Fluri, U. GaulT. Granier, M. Grosse-Perdekamp, D. Von Harrach, M. Van Der Heijden, C. Heusch, Q. Ingram, M. De Jong, E. M. Kabuß, R. Kaiser, T. J. Ketel, F. Klein, S. Kullander, U. Landgraf, T. Lindqvist, G. K. Mallot, C. Mariotti, G. Van Middelkoop, A. Milsztajn, Y. Mizuno, A. Most, A. Mücklich, J. Nassalski, D. Nowotny, J. Oberski, A. Paić, C. Peroni, B. Povh, K. Prytz, R. Rieger, K. Rith, K. Röhrich, E. Rondio, L. Ropelewski, A. Sandacz, D. Sanders, C. Scholz, R. Seitz, F. Sever, T. A. Shibata, M. Siebler, A. Simon, A. Staiano, M. Szleper, W. Tłaczala, Y. Tzamouranis, M. Virchaux, J. L. Vuilleumier, T. Walcher, R. Windmolders, A. Witzmann, K. Zaremba, F. Zetsche

Risultato della ricerca: Contributo su rivistaArticolo in rivistapeer review

Fingerprint

Entra nei temi di ricerca di 'Accurate measurement of Fd2/Fp2 and Rd - Rp'. Insieme formano una fingerprint unica.

Keyphrases

Physics

Material Science